DSpace@Çankaya

Optical characterization of (TlInS2)0.5(TlInSe2)0.5 crystal by ellipsometry: linear and optical constants for optoelectronic devices

Bu öğenin dosyaları:

Dosyalar Boyut Biçim Göster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.